FISCHER - Measuring made Easy
Meet- en analyseapparatuur van FISCHER wordt momenteel overal ter wereld in diverse sectoren gebruikt – overal waar nauwkeurigheid, betrouwbaarheid en eenvoudige bediening vereist zijn. Wij zoeken uit hoe we onze klanten de best mogelijke kwaliteit kunnen bieden door competent en deskundig advies.
Gespecialiseerd in laagdiktemeting
Of het nu gaat om nano-, micro- of millimeters, bij FISCHER vindt u altijd een passende meettechniek.   Coatinginspectie met DELTASCOPE en inwendige meetsonde
FISCHERSCOPE XRF instrumenten
Laagdiktemeting en materiaalanalyse met röntgenfluorescentie. Nauw-keurige, herhaalbare en veelzijdige meettechniek voor zowel productie-controle als R&D toepassingen.
Kwaliteitsinspectie van flex PCB's: precieze meting van meerlaags-systemen met de FISCHERSCOPE Xray XUL-PCBKwaliteitscontrole van wafers met de FISCHERSCOPE XDVµ-Wafer met automatische wafer-handling
Geheel of deels geautomatiseerde laagdiktemeting bij reel-to-reel connector en leadframe plating processen 
Micro- en nanoindentatie
Ook voor geïnstrumenteerde micro-hardheidsmeting en Scratch testing vindt u bij FISCHER de beste apparatuur. Eenvoudige opstelling voor micro-hardheidsmeting op geanodiseerde productenBepaling van elastische en plastische vervorming met de flexibele FISCHERSCOPE HM 2000 meetopstelling PICODENTOR HM500 met programmeerbare xy tafel, actieve schokabsorbtie, sound isolation box en Atomic Force Microscope